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了解激光测量仪技术:测厚仪

发布时间:2020-11-16 23:09 作者:真人麻将

  材料及物体厚度的仪表,它常用来连续或抽样测量钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料等产品的厚度。目前国内厂家普遍采用人工测量和控制的方法来管控的厚度,这存在着测量精度差的、成材率低等弊端,因此采用专业的测厚仪来能有效地改善测控环境,提高生产效率、提高成材率和产品质量。

  那测厚仪有什么类型?不同的划分标准有不同的分类,从使用途径角度,可以分为纸张测厚仪、薄膜测厚仪、涂层测厚仪、激光测厚仪、X射线测厚仪、超声波测厚仪等。其中,激光测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,它又分为接触式测厚仪、非接触式测厚仪、多点式激光测厚仪、扫描式激光测厚仪、超大直径管材壁厚测量仪(离线检测)。

  在众多生产激光测厚仪的厂家中,深圳市大成精密设备有限公司的激光测厚仪质量可靠,

  主要是通过激光三角法测距原理,测量薄膜材料(锂电池正/负极涂布、锂电池正/负极辊压)的厚度,相对于其他厂家的产品,它们的亮点优势是:

  除了以上优势,该激光测厚仪还具有头尾、两侧削薄区厚度轮廓测量的独有功能,它一般应用在涂布型激光测厚仪上,作用是实时测量与显示两侧边缘或者头尾部削薄区的30mm范围内的厚度轮廓,支持实时监控出涂布机的头尾削薄状态,保证阴阳极的Cell Balance,防止析锂。

  大成精密生产的激光测厚仪典型应用于锂电池正、负极涂布、锂电池正、负极辊压的厚度测量,以深圳某家大型锂电池厂使用银压型激光测厚仪的实际情况为例,使用时,可放置激光测厚仪于银压后和收卷前,在具有极片张力波动和银压机振动的复杂工况下测量设备使用浮动辗和隔震垫设计,在银压速度达到120m/min的情况下测量精度仍能达到±0.5um。

  深圳市大成精密设备有限公司于2011年成立,如今已发展为一家集研发、制造、销售、服务于一体的国内领先的新能源设备生产企业,一直以来专注于锂电池极片面密度及厚度的在线无损检测,除了锂电激光测厚仪,他们的主要产品还有X射线面密度测量仪、β射线面密度测量仪、红外测厚仪等,具有强劲的研发实力。

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  Broadcom AFCD-V54JZ 850nm 25 Gb / s 1x4阵列氧化物GaAs基垂直腔面发射激光器(VCSEL),具有150微米厚的基板。 VCSEL阵列专为高速光数据通信应用而设计,可产生圆对称的窄光束,通过适当的镜头,可将光功率有效耦合到50 / 125um和62.5 / 125um多模光纤中。 / div

  功能 850nm波长范围 数据速率从DC到25Gb / s 高功率输出 适用于非密封环境 应用 100GbE QSFP28有源光缆(AOC)

  Broadcom AFCD-V51KC1 850nm 25 Gb / s氧化镓GaAs基垂直腔面发射激光器(VCSEL),具有150微米厚的基板。 VCSEL专为高速光数据通信应用而设计,可将光功率有效耦合到50 / 125um和62.5 / 125um多模光纤中。 功能 850nm波长范围 数据速率从DC到25Gb / s 符合100 Gb以太网 高功率输出 适用用于非密封环境 应用程序 25GbE SR SFP28可插拔收发器 25GbE SFP28有源光缆(AOC)

  AFCD-V21KA2 10 Gb / s 850nm氧化物VCSEL

  Broadcom AFCD-V21KA2是一款850nm 10 Gb / s氧化镓GaAs基垂直腔面发射激光器(VCSEL),具有150微米厚的基板,专为高速光学设计数据通信应用。 VCSEL设计用于符合IEEE 802.3ae 10GBASE-SR的10Gb / s以太网链路,可将光功率有效耦合到50 / 125um和62.5 / 125um多模光纤中。 功能 850nm波长范围 数据速率从DC到10.3125 Gb / s 温度范围从5C到+ 75C 适用于非密封环境 应用 10GbE SR SFP +可插拔收发器 10GbE SFP +有源光缆(AOC) )...

  Broadcom AFCD-V51KC是一款850nm 28 Gb / s氧化镓GaAs基垂直腔面发射激光器(VCSEL),具有150微米厚的基板。 VCSEL专为高速光数据通信应用而设计,可将光功率有效耦合到50 / 125um和62.5 / 125um多模光纤中。 功能 850nm波长范围 数据速率从DC到28Gb / s 高功率输出 适用于非密封环境 应用 25GbE SFP28有源光缆(AOC)


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